公司介紹
產品介紹
光學檢測
設備-光罩
設備-FPD
設備-晶圓
模組-半導體
模組-FPD
自動化方案
半導體設備
專利
專利取得歷程
投資人專區
聯絡我們
ENGLISH
繁體中文
ENGLISH
ENGLISH
繁體中文
首頁
產品介紹
光學檢測
設備-光罩
光學檢測
設備-光罩
設備-FPD
設備-晶圓
模組-半導體
模組-FPD
自動化方案
半導體設備
專利
專利取得歷程
EUV 光罩檢測機 Aurora-EL
EUV 光罩檢測機 Aurora-EL
膜面:微粒,針孔 穿膜檢線路區:微粒
Feature
Pellicle side
返回列表頁